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材料电学性能测试实训室

发布人: 来源:网络 时间:2011/4/9 点击:5179

 

    该实训实训项目服务于硅材料技术、光伏材料加工及应用技术专业,是《硅材料检测技术》重要的知识内容。电学性能实训室可开展的实训项目有:
    一、导电型号测试:
    通过半导体与冷、热探笔接触后,由于载流子的热运动与温度有关,热区的载流子热运动速度大,冷区热运动速度小,因此在冷、热两端形成空穴或自由电子的浓度差,从而产生温差电动势来测量。

 

    二、四探针法测试电阻率:
    四探针法用针距约为1mm的四根探针同时压在硅单晶样品的平整表面上,利用恒流源给外面两根探针通以电流,然后在中间两根探针上用电位差计测量电压降,然后根据推导简化   公式,其中四根探针排列在同一条直线上,间距相等,此时探针系数就是一个常数。

在实际测量工作中,为了计算方便,常常令电流I在数值上与探针系数C相等,即I=C,于是ρ=V23,此时探针23之间测得电位差在数值上就等于样品的电阻率。

               

    三、少子寿命的测试:
    利用电脉冲或光脉冲(闪光)的方法,从半导体内激发非平衡载流子,调节了半导体的体电阻,电导率增加,样品的电阻减小,因此样品上流过的高频电流的幅值增加,通过测量体电阻或串联电阻两端电压的变化规律来观察半导体材料中的非平衡少数载流子的衰减规律,从而测定其寿命。

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